フェライト材を用いたLSIからの放射抑制検討
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概要
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LSIパッケージにフェライト材を搭載いた場合の放射抑制効果の実験的な検証を行った。外部から動作制御可能なテストLSIをプリント基板に実装し、フェライト材搭載時の基板の放射や近傍電界を測定した。LSIパッケージ上面やピンを覆うようにフェライト材を搭載すると、放射の発生する周波数帯ではLSIを実装したプリント基板の電界広がりを抑えることができ、放射が抑制されることを確認した。そこで、LSIの周囲を覆うためのフェライト材試料を試作して、テストLSIのパッケージ周囲への実装を行い、LSIから発生する放射の抑制効果を確認した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-10-19
著者
-
橋本 修
青山学院大学
-
芳賀 知
技術研究組合超先端電子技術開発機構
-
中野 健
技術研究組合超先端電子技術開発機構(aset)
-
芳賀 知
超先端電子技術開発機構
-
橋本 修
青山学院大 理工
-
芳賀 智
技術研究組合 超先端電子技術開発機構
-
中野 健
技術研究組合超先端電子技術開発機構
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