EMCJ2000-26 短絡型TEMセルを用いた電界・磁界分離による感受性測定の提案
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概要
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イミュニティ特性を測定するために用いられるTEMセル法では、一般に整合負荷の条件下で使用されている。このTEMの終端負荷を短絡回路とすると、TEMセル内部には定在波が発生する。電圧定在波の腹の位置近傍では電界が優勢であり、節の位置近傍では磁界が優勢である。このような位置に回路部品などの素子を挿入してその受信レベルを調べることは、放射電界・磁界による素子の感受性特性を調べることである。また、これを使うと電磁界と素子との結合特性、結合メカニズムを理論的に解明するうえで有効な手段となる。
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-06-15
著者
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