複素量による磁界測定(放電/電力/一般)
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概要
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EMCの分野において,電磁界を複素数で測定することが可能であれば,例えば,電子機器内部の妨害波の発生・伝搬のメカニズムをより詳しく知ることができることになり基板設計や筐体設計等に有効な情報を提供してくるものが期待できる.小文では近傍磁界を複素数で測定する目的で6ポート回路を使用する手法を提案している.従来の6ポート回路は回路素子がある規定値を満足する範囲で使用するものであるが,ここではこれを回路網理論的な取扱いをすることによって測定範囲を広範囲に広げて測定することを提案している.また,この手法での問題点に関してシミュレーション結果から検討している.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-12-12
著者
-
村野 公俊
東海大学情報通信電子工学科
-
上 芳夫
電気通信大学情報通信工学科
-
上 芳夫
電気通信大学
-
肖 鳳超
電気通信大学
-
上 芳夫
Department Of Information And Communication Engineering Faculty Of Electro-communications The Univer
-
川上 雅士
電気通信大学
-
上 芳夫
電気通信大学電気通信学部
-
肖 鳳超
電気通信大学大学院情報理工学研究科
-
上 芳夫
電気通信大学電気通信学部情報通信工学科
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