誘導性負荷を持つ接点のシャワリングノイズと放電現象
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概要
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シャワリングノイズの発生現象は再現性に乏しく,その発生機構は十分には明らかにされていない.特に,接点開離時に発生する現象は解明されていない点が多い.本報告では,誘導性負荷を含む回路を電気接点で開いたときに発生するシャワリングノイズの発生機構を解明するため,並列共振回路を構成する誘導性負荷で生じる減衰振動(シャワリングノイズの基本波)が,負荷の共振点の周波数とインピーダンス,特性値Qにより容易に示されることを述べる.また,シャワリングノイズの発生機構は接点間の電圧変化(減衰振動)と接点の運動に支配される放電の発生条件で説明でぎるが,細部を見ると,接点の開閉動作回数によりシャワリングノイズの変化が確認されたので,変化の原因の一つであるブリッジ現象に着目し,その特性を検討する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-03-17
著者
-
仁田 周一
東京農工大学工学部
-
武藤 篤生
東京農工大学工学部
-
CHANG Jen-Shih
Department of Engineering Physics, McMaster University
-
Chang Jen-shih
Department Of Engineering Physics Mcmaster University
-
仁田 周一
東京農工大学
-
Chang Jen-shih
Department Of Electrical Engineering Musashi Institute Of Technology
-
Chang Jen_shih
Department Of Engineering Physics Mcmaster University
-
宮島 清富
東京農工大学工学部
-
宮島 清富
東京農工大学工学部機械システム工学科
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