周波数領域でのEMI評価におけるノイズ計測データの解析モデル
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概要
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電磁雑音に対する評価は, 周波数領域で行われ, 許容値, 計測方法が規制に定められている. しかし, 規制に定められた測定方法に基づいて, 異なった時間に同一計測対象を計測すると, 計測結果が異なる, すなわち結果が再現性に乏しい現象が多く見られる.本論文では, STFT (短時間フーリエ変換, Short-Time Fourier Transform)の概念を用いて, 規制に定められた周波数領域におけるノイズ計測法により得られた計測データを解析するモデルを提案する. 周波数窓内に含まれる被計測対象から放出されるノイズの周波数成分およびそれらの位相と計測データとの関係をこのモデルによって表し, 異なる時刻で得られる周波数スペクトルが異なること, およびその変化特性を明らかにする. このような異なる計測時刻によって周波数スペクトルが異なる, すなわち, 再現性が乏しいことの原因の一つが, ノイズに含まれる周波数成分が予想できないという特徴により, 計測の周波数分解能が不十分になることによっていることが, 上記の理論の解析およびシミュレーションによって明らかになる.
- 1997-10-25
著者
-
仁田 周一
東京農工大学工学部
-
堀籠 教夫
東京商船大学商船学部交通電子制御工学講座
-
堀籠 教夫
東京商船大学商船学部
-
武藤 篤生
東京農工大学工学部
-
仁田 周一
東京農工大学
-
堀篭 教夫
東京商船大学 交通電子制御工学講座
-
陳 勤勤
東京農工大学工学部
-
堀籠 教夫
東京商船大学
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