N-S接合の過剰電流に関する一考察

スポンサーリンク

概要

論文の詳細を見る
常伝導体(N)としてAu、超伝導体(S)としてPbを用いてN-S接合を製作し、過剰電流の電圧依存性及び温度依存性を測定した。アーノルド理論を用いて実験結果を解析し、接合界面のバリアの幅及び高さを推定した。Au-Pb接合の電流電圧特性は、2mV以下の電圧領域では、理論解析結果と良く一致した。しかし、3mV以上の電圧領域では理論値よりも大きな過剰電流が観測された。また、臨界温度付近における過剰電流の温度依存制は△(T)と一致するが、温度を下げていくと過剰電流は飽和し、実験結果はアーノルド理論の結果を良く一致した。
社団法人電子情報通信学会の論文
1993-07-26

著者

関連論文

もっと見る

スポンサーリンク