X帯における液晶材料の複素誘電率測定法と測定結果
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概要
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マイクロ波帯における複素誘電率の測定法として知られている方形導波管定在波法を応用し、液晶材料の複素誘電率の簡易測定法と、その測定結果を示した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-05-01
著者
-
橋本 修
青山学院大学
-
鍵和田 啓介
青山学院大学
-
都甲 康夫
スタンレー電気・研開センター
-
橋本 修
青山学院大 理工
-
平田 圭一
スタンレー電気株式会社
-
鍵和田 啓介
青山学院大学理工学部
-
都甲 康夫
スタンレー電気(株)研究開発センター
-
平田 圭一
スタンレー電気株式会社研究開発センター
-
都甲 康夫
スタンレー電気株式会社
-
都甲 康夫
スタンレー電気
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