反射型共焦点レーザ顕微鏡を用いたネマティック液晶セルの分子配向方位の測定
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概要
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ネマティック液晶は熱運動による揺らぎのために光を散乱する(レイリー散乱).液晶のレイリー散乱は入射直線偏光に対する角度依存性を有するため, その角度特性を測定すれば液晶セル中の面内分子方位の情報を得ることが可能である.本論文では, 反射型共焦点レーザ顕微鏡を用いて, 物体の表面や界面からの強い正反射光を除去して散乱光成分を観察することにより, 液晶からの散乱光を観察した.ホモジニアスセル, ツイストセルの測定結果はde Gennesの散乱強度の理論と一致し, 入射直線偏光が液晶分子長軸方位と一致するか垂直で散乱輝度は最大となる.この方法によって液晶のレイリー散乱の直線偏光角度依存性を高精度で測定することが可能になり, 液晶分子の面内方位角を決定することが可能となった.改良した反射型共焦点レーザ顕微鏡は焦点位置からの散乱光のみを測定することができるため, 本測定法を用いればどのような配向形態の液晶セルでも配向膜, 液晶界面における液晶分子の面内方位を測定することが可能である.
- 2000-06-25
著者
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