液晶ディスプレイの残像現象に影響する不純物イオンの解析(ディスプレイ一般)

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概要

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• 液晶ディスプレイには、残像の発生により画質の低下が生じる場合がある。残像は、液晶パネル内にイオン性の不純物が存在することにより発生する残留DC電圧に関わると考えられる。このため、残留DC電圧の発生原理を明確にし、その評価方法を確立することは重要な課題である。本研究では残留DC電圧の発生を、液晶層と配向膜の界面へのイオンの吸着と離脱のモデルを用いて明らかにした。その結果から、イオンの界面への吸着速度定数及び界面からの離脱速度定数を用いることによって、残留DC電圧の正確な評価方法を提案した。

• 2009-07-23

著者

• 内田 龍男

  東北大学大学院工学研究科

• 宮下 哲哉

  東北大学大学院工学研究科電子工学専攻

• 山田 祐一郎

  シャープ株式会社ディスプレイ技術開発本部

• 内田 龍男

  東北大学大学院工学研究科電子工学専攻内田研究室

• 内田 龍男

  東北大学工学研究科

• 水崎 真伸

  東北大学大学院工学研究科

• 宮下 哲哉

  東北大学大学院工学研究科電子工学専攻内田研究室

• 富下 哲哉

  東北大学大学院工学研究科電子工学

• 水崎 真伸

  東北大学大学院工学研究科:シャープ株式会社研究開発本部

• 内田 龍男

  東北大学大学院

• 山田 祐一郎

  シャープ株式会社研究開発本部

• 山田 祐一郎

  シャープ株式会社 研究開発本部 表示技術研究所

• 宮下 哲哉

  東北大学大学院工学研究科

• 山田 祐一郎

  シャープ株式会社

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