N型液晶の粘性係数測定法の理論解析(ディスプレイに関する技術全般 : LCD(バックライトを含む), PDP, 有機/無機EL, CRT, FED, VFD, LEDなどのディスプレイに関するデバイス, 部品・材料及び応用技術, 発光型/非発光型ディスプレイ合同研究会)

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概要

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• 当研究室は液晶の応答特性に大きな影響を与える粘性係数を測定する方法として、係数分離フィッティング法を提案し、この方法を用いることでp型液晶の粘性係数を高精度かつ簡便に測定できることを示した。本発表では、近年注目されているn型液晶の粘性係数を、係数分離フィッティング法を用いることで測定できる可能性を理論解析によって示す。

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2006-01-19

著者

• 石鍋 隆宏

  東北大学大学院工学研究科

• 内田 龍男

  東北大学大学院工学研究科

• 岸本 匡史

  (財)21あおもり産業総合支援センター液晶先端技術研究センター

• 倉富 雄平

  東北大学大学院工学研究科

• 宮下 哲哉

  東北大学大学院工学研究科電子工学専攻

• 宮下 哲哉

  東北大学 大学院工学研究科

• 内田 龍男

  東北大学

• 石鍋 隆宏

  東北大学 大学院工学研究科電子工学専攻

• 宮下 哲哉

  東北大学大学院工学研究科電子工学専攻内田研究室

• 岸本 匡史

  (財)21あおもり産業総合支援センター 液晶先端技術研究センター

• 岸本 匡史

  液晶先端技術研究センター

• 石鍋 隆宏

  東北大学

• 宮下 哲哉

  東北大学

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