偏光解析法に基づいた液晶材料の弾性定数K22の高精度測定(発光型/非発光型ディスプレイ)

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概要

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• 簡単かつ高精度な液晶材料の弾性定数K22の測定法を考案した。エリプソメトリを用いた捻れ配向液晶の電圧OFF時およびON時における偏光解析より液晶セルパラメータと弾性定数K22をそれぞれ分離して順次決定することに成功し、かつ測定精度の向上を達成した。本研究の成果により、配向分布にねじれを有する液晶デバイスの精密な設計・評価が可能となる他、将来は粘性係数の測定・評価に基づく動特性解析技術の確立により、液晶デバイスの高速化に大きく貢献できる。

• 2012-01-02

著者

• 石鍋 隆宏

  東北大学大学院工学研究科

• 大野 友嗣

  東北大学大学院工学研究科電子工学専攻

• 内田 龍男

  東北大学大学院工学研究科電子工学専攻内田研究室

• 大野 友嗣

  東北大学大学院工学研究科電子工学専攻内田研究室

• 石鍋 隆宏

  東北大学大学院工学研究科電子工学専攻内田研究室

• 内田 龍男

  東北大学 工学部 電子工学科

• 宮下 哲哉

  東北大学大学院工学研究科電子工学専攻内田研究室

• 富下 哲哉

  東北大学大学院工学研究科電子工学

• 内田 龍男

  仙台高等専門学校

• 宮下 哲哉

  東北工業大学工学研究科電子工学専攻

• 森田 ゆずか

  東北大学大学院工学研究科電子工学専攻

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