静電気放電ガンのプリント回路基板に対する接触放電のFDTDシミュレーション
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概要
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静電気放電(ESD:Electrostatic Discharge)で生ずる過渡電磁雑音は,ハイテク機器に強い電磁干渉(EMI:Electromagnetic Interference:EMI)を引き起こすとされ,ESDに対する機器イミュニティの向上が叫ばれている.国際電気標準会議(IEC)では,IEC61000-4-2で帯電人体を模擬した静電気に対するイミュニティ試験法を具体的に示し,電流検出器(ターゲット)に対する試験器の接触放電で生ずる電流波形を詳細に規定しているが,IEC規定の放電電流が対象機器に必ずしも注入される保証はない.本文では,ESD試験に対する計算機シミュレーションの確立を目的として,筆者らの提案になるESDガンモデルでプリント回路基板上のマイクロストリップ線路に対する接触放電のFDTD(Finite-Difference Time-Domain)シミュレーション結果を実験結果と併せて示し,提案モデルのフィージビリティーを検証した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-07-18
著者
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