ESDガンの接触放電に対する内蔵インダクタの放電電流立ち上がり波形に及ぼす影響
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概要
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- 2008-12-19
著者
-
藤原 修
名古屋工業大学大学院
-
山中 幸雄
独立行政法人情報通信研究機構
-
高 義礼
名古屋工業大学大学院
-
石上 忍
独立行政法人情報通信研究機構
-
山中 幸雄
独立行政法人 情報通信研究機構
-
戸谷 史彦
名古屋工業大学大学院
-
山中 幸雄
(独)情報通信研究機構
-
山中 幸夫
郵政省通信総合研究所
-
山中 幸雄
情報通信研究機構emc計測グループ
-
藤原 修
名古屋工業大学
-
山中 幸雄
独立行政法人・情報通信研究機構
-
石上 忍
独立行政法人・情報通信研究機構
-
石上 忍
独立行政法人情報通信研究機構電磁波計測研究所電磁波環境研究室
-
戸谷 史彦
名古屋工業大学大学院情報工学専攻
-
戸谷 史彦
名古屋工業大学
-
高 義礼
名古屋工業大学
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