BI-1-2 ESD現象とEMC問題(2) : マイクロギャップ放電に伴う過渡変動と放射電磁波強度(BI-1.GHz帯におよぶ静電気・接点間放電による電磁妨害の脅威,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
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概要
- 論文の詳細を見る
- 2009-03-04
著者
-
嶺岸 茂樹
東北学院大学工学部
-
川又 憲
八戸工業大学大学院
-
藤原 修
名古屋工業大学大学院
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川又 憲
八戸工業大学
-
嶺岸 茂樹
東北学院大学
-
川又 憲
電子知能システム学科
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藤原 修
名古屋工業大学
-
嶺岸 茂樹
東北学院大
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