方形空洞共振器のSパラメータ解析にもとづく複素誘電率測定法の検討(材料測定関連, 電力EMC/一般)
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概要
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先に我々が提案した誘電体チューブ法の原理は誘電体円柱の複素誘電率測定にも適用できる。方形導波管の広壁側から円柱状や多層円筒状の試料を挿入して、Sパラメータより複素誘電率の周波数掃引測定を行う方法を総称して、円柱状試料挿入方形導波管法と呼ぶことにすれば、誘電体チューブ法はその一アプリケーションと位置づけられる。同方法では低損失材料の誘電正接を正確に求めることができない。そこで本報告では、円柱状試料挿入方形導波管法の装置に結合窓板を2枚追加して低損失材料の測定のための方形空洞共振器の構成にし、導波管の使用周波数帯域内で3点程度の測定を行うことを目標とし33-50GHzでの測定系を構築し、測定を行った。試料の複素比誘電率を共振器の透過Sパラメータの解析にもとづき求めた結果、試料の複素比誘電率を得ることができた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-12-02
著者
-
西方 敦博
東京工業大学教育工学開発センター
-
香西 将樹
東京工業大学大学院教育工学開発センター
-
福永 香
情報通信研究機構
-
山中 幸雄
情報通信研究機構
-
荻原 知洋
東京工業大学大学院電気電子工学専攻
-
山中 幸雄
独立行政法人 情報通信研究機構
-
西方 敦博
東京工業大学
-
福永 香
NTTアドバンステクノロジ株式会社
-
荻原 知洋
東京工業大学 教育工学開発センター
-
西方 敦博
東京工芸大学教育工学開発センター
-
香西 将樹
東京工業大学 教育工学開発センター
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