交差導波路型光カプラを用いたLバンド対応光線路試験システム
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概要
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光アクセス網において,建設・保守運用コストの削減とサービスの信頼性向上を目的とした光線路試験システムが開発されてきた.近年,LバンドがDWDM等で使用され始めている.今回,L/Uバンド交差導波路型光カプラとファイバグレーティングを用いたLバンド対応光線路システムを提案する.本稿では,多重反射によるOTDR波形の劣化を抑制するため,所内側フィルタに要求される反射減衰量の設計法,及びLバンド通信光と1650nm試験光を分離可能な誘電体多層膜フィルタを用いた交差導波路型光カプラの設計及び評価について報告する.また,10Gbit/s Lバンド通信線路のインサービス試験を実施し,1650nm試験光が伝送品質に影響を及ぼすことなく試験可能であることを確認した.
- 2002-11-21
著者
-
中村 稔
Nttエレクトロニクス株式会社
-
荒木 則幸
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
本田 奈月
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
泉田 史
NTTアクセス網研究所
-
中村 稔
NTTアクセスサービスシステム研究所
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