L-band拡張型光カプラモジュールを用いた光線路試験システム
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概要
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IP需要の増大化に伴い,中継及び加入系の通信帯域の拡大が必要であり,DWDMを中心に長波長帯(L-band:1565〜1625nm)まで使用するようになってきた.光線路試験システムにおいては,標準的な保守波長帯を用いて試験する必要があり,通信光であるL-bandまでを透過し,試験光(1650mm)を遮断する急峻なフィルタが必要である.本稿では,急峻な遮断スペクトルを持つFBGフィルタと4ポートサーキュレータを組み合わせたL-band拡張型光カプラモジュールを用いた光線路試験システムの設計及び評価結果を報告する.
- 2002-05-23
著者
-
中村 稔
Nttエレクトロニクス株式会社
-
荒木 則幸
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
本田 奈月
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
泉田 史
NTTアクセス網研究所
-
中村 稔
NTTアクセスサービスシステム研究所
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