PON におけるスプリッタ下部故障位置探索の為の光線路試験システムの試験波長設計

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概要

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• 所外に光スプリッタを配置した光線路(PON)にて通信設備ビルから光パルス試験を行った場合, 光スプリッタによる分岐損失および光スプリッタ下部各線路からの戻り光の重畳により, 正確なOTDR波形を得る事が出来ない.そこで, ユーザ宅側からの光試験が考えられるが, 試験光を遮断するターミネーションフィルタの存在により既存の試験波長である1650nmでは光試験が出来ない.そこで, 本研究ではPONに対応した光線路試験システムおよび最適な試験波長設計について提案する.

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2005-02-25

著者

• 古敷谷 優介

  日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所

• 伊藤 文彦

  日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所

• 伊藤 文彦

  NTTアクセスサービスシステム研究所

• 荒木 則幸

  日本電信電話株式会社nttアクセスサービスシステム研究所

• 荒木 則幸

  NTTアクセスサービスシステム研究所

• 泉田 史

  日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所

• 有居 正仁

  日本電信電話株式会社 NTTアクセスサービスシステム研究所

• 伊藤 文彦

  日本電信電話(株)

• 古敷谷 優介

  日本電信電話株式会社 アクセスサービスシステム研究所

• 荒木 則幸

  日本電信電話株式会社 アクセスサービスシステム研究所

• 泉田 史

  日本電信電話株式会社 アクセスサービスシステム研究所

• 荒木 則幸

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