B-13-40 半導体レーザを光源に用いたOFDR測定における位相雑音補償技術の適用検討(B-13.光ファイバ応用技術,一般セッション)
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概要
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- 2011-02-28
著者
-
古敷谷 優介
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
樊 〓〓
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
伊藤 文彦
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
荒木 則幸
日本電信電話株式会社nttアクセスサービスシステム研究所
-
ファン シンユウ
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
荒木 則幸
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
井上 雅晶
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
井上 雅晶
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
伊藤 文彦
日本電信電話(株)
-
ファン シンユウ
日本電信電話(株)
-
Fan Xinyu
Nttアクセスサービスシステム研究所
-
荒木 則之
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
古敷谷 優介
日本電信電話株式会社 アクセスサービスシステム研究所
-
荒木 則幸
日本電信電話株式会社 アクセスサービスシステム研究所
-
井上 雅晶
日本電信電話株式会社 アクセスサービスシステム研究所
-
荒木 則幸
日本電信電話株式会社
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