井上 雅晶 | 日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
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概要
関連著者
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井上 雅晶
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
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井上 雅晶
NTTアクセスサービスシステム研究所
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荒木 則幸
日本電信電話株式会社nttアクセスサービスシステム研究所
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荒木 則幸
NTTアクセスサービスシステム研究所
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井上 雅晶
日本電信電話株式会社 アクセスサービスシステム研究所
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本田 奈月
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
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東 裕司
NTTアクセスサービスシステム研究所
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本田 奈月
NTTアクセスサービスシステム研究所
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東 裕司
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
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荒木 則幸
日本電信電話株式会社 アクセスサービスシステム研究所
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荒木 則幸
日本電信電話株式会社
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東 裕司
日本電信電話株式会社 アクセスサービスシステム研究所
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本田 奈月
日本電信電話(株)式会式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
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本田 奈月
日本電信電話株式会社 アクセスサービスシステム研究所
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伊藤 文彦
日本電信電話(株)
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伊藤 文彦
NTTアクセスサービスシステム研究所
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伊藤 文彦
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
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伊藤 文彦
日本ビクター(株)技術開発本部
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東 裕司
Ntt東日本ネットワーク事業推進本部サービス運営部技術協力センタ
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東 裕司
日本電信電話株式会社NTTアクセスシステムサービス研究所
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ファン シンユウ
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
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ファン シンユウ
日本電信電話(株)
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荒木 則之
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
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古敷谷 優介
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
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樊 〓〓
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
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Fan Xinyu
Nttアクセスサービスシステム研究所
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古敷谷 優介
日本電信電話株式会社 アクセスサービスシステム研究所
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ファン シンユウ
NTTアクセスサービスシステム研究所
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片山 和典
日本電信電話株式会社nttアクセスサービスシステム研究所
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岡本 達也
日本電信電話株式会社アクセスサービスシステム研究所
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納戸 一貴
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
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真鍋 哲也
日本電信電話株式会社 アクセスサービスシステム研究所
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岡本 達也
NTTアクセスサービスシステム研究所
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井上 雅晶
日本電信電話株式会社アクセスサービスシステム研究所
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片山 和典
日本電信電話株式会社 アクセスサービスシステム研究所
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納戸 一貴
日本電信電話(株)式会式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
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真鍋 哲也
日本電信電話(株)式会式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
著作論文
- 偏光強度解析による光ファイバ収納部の検出技術
- B-10-24 ブリルアン散乱光モニタによる心線対照方法(B-10.光通信システムA(線路),一般セッション)
- B-10-15 光ケーブル敷設環境を識別する温度変化閾値の検討(B-10.光通信システムA(線路),一般セッション)
- 多値ブリルアン周波数シフトを用いた光IDによる設備識別技術
- B-10-7 カールコードにおける偏光強度周期の伸長依存性(B-10.光通信システムA(線路),一般セッション)
- B-10-5 ブリルアン周波数シフトを用いた光IDによる設備識別方法(B-10.光通信システムA(線路),一般セッション)
- B-10-1 ブリルアン周波数シフトを用いた光位置マーカの設計(B-10.光通信システムA(線路),一般セッション)
- B-10-22 光ファイバ曲げ収容部における偏光強度の周期性の解析(B-10.光通信システムA(線路),一般セッション)
- ブリルアン周波数シフトを割り付けた光位置マーカによる高精度設備識別方法(アクセスシステムおよびアクセス用光部品,光無線システム(ROF,FWA等),光映像伝送(CATV含む),オペレーション/保守監視,光計測,光ファイバ,光ファイバケーブル,一般)
- ブリルアン周波数シフトを割り付けた光位置マーカによる高精度設備識別方法
- ブリルアン周波数シフトを割り付けた光位置マーカによる高精度設備識別方法(アクセスシステム及びアクセス用光部品,光無線システム(ROF,FWA等)光映像伝送(CATV含む),オペレーション/保守監視,光計測,光ファイバ,光ファイバケーブル,一般)
- B-10-12 ブリルアン周波数シフトを割り付けた光位置マーカによる高精度設備識別方法(B-10.光通信システムA(線路),一般セッション)
- B-10-13 ブリルアン周波数シフトを用いた光位置マーカの適用検討(B-10.光通信システムA(線路),一般セッション)
- B-13-43 光カールコードの偏波モード分散(PMD)計測(B-13.光ファイバ応用技術,一般セッション)
- B-13-40 半導体レーザを光源に用いたOFDR測定における位相雑音補償技術の適用検討(B-13.光ファイバ応用技術,一般セッション)
- B-13-19 C-OFDRによる後方散乱統計解析を用いたレーザのコヒーレンス評価(B-13. 光ファイバ応用技術,一般セッション)
- B-13-35 ファイバスペックル解析によるkHz線幅レーザの自己参照スペクトル測定(B-13.光ファイバ応用技術,一般セッション)
- C-4-21 DSB-OFDRによるスペックル統計解析を用いたレーザのコヒーレンス特性評価(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般セッション)
- B-10-92 並列線形光サンプリング法によるレーザの位相雑音解析(B-10.光通信システムB(光通信方式,光通信機器,デバイスのシステム応用,光通信網・規格),一般セッション)
- B-10-13 位相検出器を用いた二重化伝送路間の遅延検出(B-10.光通信システムA(光ファイバ伝送路))