固有ブリルアン周波数シフトを有する光ファイバを用いた1650nm波長光試験システムによる光スプリッタ下部のインサービス試験
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概要
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近年FTTHによるブロードバンドサービスはユーザ宅近傍である所外に光スプリッタを設置したPON構成を主流として提供されている.膨大な光アクセス網を効率的に建設・保守するために,光線路試験システムが開発・導入されているが,従来から光試験に用いられているOTDRではレイリー散乱光が重なる為に光スプリッタ〜ONT区間のモニタが困難である.本稿では,光ファイバに固有のブリルアン光周波数シフトを割り付けることにより光スプリッタ下部を個別に識別可能とする1650nm BOTDRを用いた光線路試験システムについて述べ,8分岐光スプリッタ下部のインサービス試験について報告する.
- 2008-01-17
著者
-
荒木 則幸
日本電信電話株式会社nttアクセスサービスシステム研究所
-
本田 奈月
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
荒木 則幸
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
東 裕司
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
本田 奈月
NTTアクセスサービスシステム研究所
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