PONにおける所外8分岐線路を保守する固有ブリルアン周波数シフト光マーカを用いた光線路試験システム(アクセス系,光無線システム,光映像伝送,光通信,オペレーション/保守監視,一般)
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概要
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近年FTTHによるブロードバンドサービスはユーザ宅近傍である所外に光スプリッタを設置したPON構成を主流として提供されている.膨大な光アクセス網を効率的に建設・保守するために,光線路試験システムが開発・導入されているが,従来から光試験に用いられているOTDRではレイリー散乱光が重なる為に光スプリッタ〜ONT区間のモニタが困難である.本稿では,光ファイバに固有のブリルアン光周波数シフトを割り付けることにより光スプリッタ下部を個別に識別可能とする光線路試験システムについて述べ,このシステムを用いた光スプリッタ下部の損失測定について報告する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-11-09
著者
-
伊藤 文彦
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
本田 奈月
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
飯田 大輔
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
本田 奈月
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
泉田 史
NTTアクセス網研究所
-
泉田 史
NTT東日本 技術協力センタ
-
泉田 史
日本電信電話株式会社NTTアクセスサービスシステム研究所
-
飯田 大輔
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
泉田 史
茨城大学大学院理工学研究科
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