JRRM800 標準物質系列の蛍光X線分析への適用とスピネル原料成分の定量
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概要
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耐火物技術協会認証標準物質 JRRM800 系列を蛍光X線分析用標準試料に用いて, X線測定条件とJIS補正モデルによる検量線の検討を行った. 分析線へのスペクトルの直接の重なりはなかった. しかし, Na_2Oの定量では, 分析線NaKαが主成分のMgKαのすそ野に位置するため, MgOの重なり補正をすることによって精度が10倍向上した. 統計誤差, 繰り返し測定誤差, 試料作製誤差は, 主成分のAl_2O3及びMgOで0.05 mass%以下であった. Fe_2O_3では, 臨界厚さが精度に影響した. 検量線の精確さは, 主成分で0.1mass%以下, 不純物で0.02 mass%以下であり, 繰り返し誤差は, JIS R 2014(化学分析法)に示される許容差の1/2〜1/10であった. これら分析方法は, 市販スビネル (Al_2O_3-MgO)原料の分析に有効に活用できた。
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 2000-01-05
著者
-
朝倉 秀夫
品川白煉瓦(株)技術研究所
-
池上 克重
品川白煉瓦(株)技術研究所
-
脇田 久伸
福岡大学理学部化学科
-
脇田 久伸
福岡大学理学部
-
脇田 久伸
福岡大学理学研究科化学専攻
-
Wakita Hisanobu
Department Of Chemistry Faculty Of Science Fukuoka University
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