基本相互接続試験システムの開発
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概要
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我々は、異なる0SI製品の相互接続性を試験するための相互接続試験アーキテクチャの確立を目指し、試験システムの開発を行なっている。本稿では、その一環としての基本相互接続試験システムについて報告する。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1993-09-27
著者
-
高橋 薫
(株)高度通信システム研究所
-
高橋 薫
高度通信システム研究所(aic)
-
高橋 健一
高度通信システム研究所(aic)
-
鈴木 眞冶
(株)高度通信システム研究所
-
籏福 正俊
(株)高度通信システム研究所
-
石幡 吉則
(株)高度通信システム研究所
-
高橋 健一
(株)高度通信システム研究所
-
後藤 邦弘
(株)高度通信システム研究所
-
澤井 克哉
(株)高度通信システム研究所
-
鈴木 眞治
高度通信システム研究所
-
石幡 吉則
高度通信システム研究所(aic)
-
澤井 克哉
高度通信システム研究所
-
後藤 邦弘
高度通信システム研究所
-
籏福 正俊
高度通信システム研究所
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