VLSI高速診断方式

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概要

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近年のVLSI動作の高速化に伴い、検査工程においても製品の検査を高速動作で行う必要が生じている。このとき、テストを行うテスタと、テスト対象であるVLSIとを結ぶケーブルの信号伝播遅延により以下の問題の発生が考えられる。(1)出力値が遅延し、次以降のテスト時間中に表れてしまい、正常なVLSIが故障を起こしているように見える(2)データを双方向に受け渡すエッジピン(双方向ピン)上でデータの衝突が発生し、正常なVLSIが故障を起こしているように見える以上の問題に対処するため、あらかじめVLSIに与えるべきテストデータを加工しておくという方式を孝案した。以下に詳細な解説を行う。
一般社団法人情報処理学会の論文
1993-03-01

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