高位レベルテスト生成を用いたテスト容易化設計支援
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概要
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近年、テスト容易化設計の必要性が叫ばれている.現在主流となっている手法は、スキャン設計などのように回路の構造を変更するものであり、付加回路量の大きさや回路性能の低下が問題となっている.本稿では、回路のデータパス構造を利用することによって、テスト容易化の必要な箇所にのみ付加回路を挿入する手法を提示する.本手法は、高位レベルのテスト生成システムINTEGRAの下で実現されることを想定している.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1988-09-12
著者
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