28pWP-6 STM観測下でのN型基盤Si(001)表面構造の温度依存性(表面界面構造(半導体))(領域9)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2004-03-03

著者

• 河合 伸

  九大理

• 河合 伸

  九大院理

• 成清 修

  九大理

• 成清 修

  九大院理

• 松藤 謙介

  九大院理

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