28aYN-7 量子トモグラフィーを用いた2光子偏光状態のエンタングルメントの実験的評価
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2001-03-09
著者
-
中村 和夫
東工大総理工 : Nec基礎研
-
石坂 智
NEC基礎研究所
-
南部 芳弘
Necナノエレクトロニクス研究所
-
南部 芳弘
日本電気株式会社
-
廣嶋 透也
NEC基礎研、CREST
-
廣嶋 透也
Jst Erato-sorst量子情報システムアーキテクチャ
-
富田 章久
NEC基礎・環境研究所
-
南部 芳弘
NEC基礎環境研究所
-
宇佐見 康二
東工大総理工
-
富田 章久
北海道大学
-
宇佐見 康二
コペンハーゲン大学ニールス・ボーア研究所:科学技術振興機構さきがけ
-
廣嶋 透也
NEC基礎研:CRES
-
石坂 智
NEC基礎研
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