25pA-10 信頼性チェック可能な量子暗号装置
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1999-09-03
著者
-
南部 芳弘
Necナノエレクトロニクス研究所
-
南部 芳弘
日本電気株式会社
-
富田 章久
NEC基礎・環境研究所
-
南部 芳弘
NEC基礎環境研究所
-
Mayers Dominic
NECI
-
河野 芳江
NEC基礎研
-
富田 章久
北海道大学
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