奇整数量子ホール効果におけるBreakdown現象II : 角度および電荷密度依存性

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1996-09-13

著者

• 木戸 義勇

  東大物性研

• 三浦 登

  東大物性研

• 青木 晴善

  東北大極低セ

• 木戸 義勇

  物材機構

• 家 泰弘

  東大物性研

• 大野 実

  東大物性研

• 遠藤 彰

  東大物性研

• 勝本 信吾

  東大物性研

• 寺嶋 太一

  金材技研

• 木戸 義勇

  金材技研

• 青木 晴善

  金材技研

• 加藤 真由美

  東大物性研

• 高増 正

  金材技研

• 三浦 登

  東京大学物性研究所

• Miura N

  Institute For Solid State Physics University Of Tokyo

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