奇整数量子ホール効果状態におけるBreakdown現象II : 角度および電荷密度依存性
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1996-09-13
著者
-
木戸 義勇
東大物性研
-
三浦 登
東大物性研
-
青木 晴善
東北大極低セ
-
木戸 義勇
物材機構
-
家 泰弘
東大物性研
-
大野 実
東大物性研
-
高増 正
東大物性研
-
遠藤 彰
東大物性研
-
勝本 信吾
東大物性研
-
寺嶋 太一
金材技研
-
青木 晴善
金材技研
-
加藤 真由美
東大物性研
-
加藤 真由美
金材技研
-
木戸 義男
金材技研
-
三浦 登
東京大学物性研究所
-
Miura N
Institute For Solid State Physics University Of Tokyo
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