大野 実 | 東大物性研
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概要
関連著者
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大野 実
東大物性研
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三浦 登
東大物性研
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Miura N
Institute For Solid State Physics University Of Tokyo
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木戸 義勇
東大物性研
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木戸 義勇
物材機構
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家 泰弘
東大物性研
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高増 正
東大物性研
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遠藤 彰
東大物性研
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勝本 信吾
東大物性研
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寺嶋 太一
金材技研
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木戸 義勇
金材技研
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青木 晴善
金材技研
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加藤 真由美
東大物性研
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三浦 登
東京大学物性研究所
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青木 晴善
東北大極低セ
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高増 正
金材技研
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木戸 義男
金材技研
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浦野 千春
産総研
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内田 慎一
東大工
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永崎 洋
東大工
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竹中 康司
東大・工
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竹中 康司
東大工
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清野 賢二郎
東大工
-
浦野 千春
東大工
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大野 実
東大工
-
加藤 真由美
金材技研
著作論文
- 31a-L-6 1次元Cu酸化物へのキャリアドーピング
- 8a-N-8 奇整数量子ホール効果状態における磁気抵抗の温度依存性
- 28p-R-10 奇整数量子ホール効果状態におけるエネルギーギャップの磁場依存性
- 奇整数量子ホール効果におけるBreakdown現象II : 角度および電荷密度依存性
- 奇整数量子ホール効果におけるBreakdown現象I : 角度および電荷密度依存性
- 奇整数量子ホール効果状態におけるBreakdown現象II : 角度および電荷密度依存性
- 3a-E-5 高易動度試料における分数量子ホール効果のブレークダウン現象
- 3a-E-4 量子ホール効果におけるブレークダウン現象の角度依存性
- 分数量子ホール効果のブレークダウン現象II
- 分数量子ホール効果のブレークダウン現象I
- 28p-X-2 分数量子ホール効果のブレークダウン現象 II
- 28p-X-1 分数量子ホール効果のブレークダウン現象 I
- 8a-N-8 奇整数量子ホール効果状態における磁気抵抗の温度依存性
- 28p-R-10 奇整数量子ホール効果状態におけるエネルギーギャップの磁場依存性
- 奇整数量子ホール効果におけるBreakdown現象I : 角度および電荷密度依存性
- 3a-E-5 高易動度試料における分数量子ホール効果のブレークダウン現象(3aE 半導体,低温合同(メゾスコピック,量子ホール効果),低温)