3a-E-5 高易動度試料における分数量子ホール効果のブレークダウン現象(3aE 半導体,低温合同(メゾスコピック,量子ホール効果),低温)

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概要

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• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 1996-03-15

著者

• 三浦 登

  東大物性研

• 大野 実

  東大物性研

• 高増 正

  東大物性研

• 寺嶋 太一

  金材技研

• 木戸 義勇

  金材技研

• 青木 晴善

  金材技研

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