二次イオン質量分析法による鋼中チタン析出物の定量に関する基礎的検討(析出物分析)(<特集>分析評価・解析)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
Analytical conditions were examined for the determination of titanium precipitates in steel as titanium carbide and titanium nitride by secondary ion mass spectroscopy. Characteristic polyatomic ions related to the compounds were sought by comparison of the intensity of polyatomic ions for various samples. The intensity of polyatomic ions were calculated by fitting the SIMS spectra to the relative isotopic abundance of each ion using non linear least square method. The polyatomic ions TiC^+ and Ti_2C^+ were selected for the characteristic ions of titanium carbide and TiN^+ and Ti_2N^+ for titanium nitride because of higher intensity and good reproducibility. The compressed disks of mixed powder of iron, titanium carbide and titanium nitride, with a few μm diameter, enble the determination of titanium carbide and nitride to less than 1 wt%.
- 社団法人日本鉄鋼協会の論文
- 1991-11-01
著者
関連論文
- オージェ電子分光法定量分析における装置補正因子
- 酸化物試料の X 線光電子分光法による定量分析
- イオンスパッタリングによる酸化物の X 線光電子ペクトルの変化
- 深さ方向分析におけるイオンスパッタリング収率の測定
- オージェ電子分光法による状態分析のためのスペクトル微細構造観察
- Nb-Ti 添加高張力鋼の析出物分析法と析出挙動
- 413 O_2^+, N_2^+, Cs^+ イオンによる各種金属のスパッタリング収率(元素分析, 表面分析, 分析・表面処理, 日本鉄鋼協会第 114 回(秋季)講演大会)
- 金属の表面分析の現状と課題 (2)(共同研究会鉄鋼分析部会表面分析小委員会)
- 金属の表面分析の現状と課題 (1)(共同研究会鉄鋼分析部会表面分析小委員会)
- 大気圧イオン化質量分析計による亜鉛メッキ鋼材の拡散性水素定量
- 435 波長分散形 X 線マイクロアナライザの定量分析におけるバックグラウンドの補正法(分析, 分析・表面処理, 日本鉄鋼協会第 110 回(秋季)講演大会)
- 二次イオン質量分析法による鋼中チタン析出物の定量に関する基礎的検討(析出物分析)(分析評価・解析)
- イオンマイクロアナライザによる金属表面の微小領域分析 (表面処理・表面改質特集)
- 入門講座 分析試験法編(14)総論「極表面を特性化する」
- オ-ジェ電子分光法による鋼中チタン析出物の形態別定量分析 (表面技術)
- 討 29 オージエ電子分光法による定量分析 : 鉄鋼共同研究会分析部会表面分析小委員会報告(V 鉄鋼における表面分析の現状と問題点, 第 111 回 講演大会討論会講演概要)
- イメージングプレートを用いた荷電粒子放射化オートラジオグラフィによる金属中軽元素分布像の観察(微小域構造解析)(最先端の化学分析と物理解析)
- 拡散性水素定量用の社内標準試料の作製
- 7.2.3 表面分析技術の標準化(7.2 材料開発に寄与した技術の成果, 7. 分析評価・解析技術)(21 世紀へ向けて-鉄鋼技術 10 年の軌跡)
- 討 21 冷延鋼板の化成処理性におよぼす焼鈍様式および鋼組成の影響(IV 薄板・表面処理鋼板の表面解析とその応用, 第 109 回 講演大会討論会講演概要)
- 396 高速度鋼の破壊靱性と引張り性質(破壊靱性, 性質, 日本鉄鋼協会第 92 回(秋季)講演大会)
- 大気圧イオン化質量分析計による鋼中の拡散性水素定量
- 高分解能RBSによるZrO_2/Si界面の評価
- イオンビーム分析概論(1)HEIS,MEIS,LEIS(第2回)
- イオンビーム分析概論(1)HEIS,MEIS,LEIS
- 技術資料 高分解能RBSによる薄膜評価 (特集:薄膜技術)
- 解説 表面分析入門
- 企業シリーズ 21世紀のニーズに応える分析・解析・評価技術(4)極薄多層膜の膜厚、組成、界面状態の評価技術--高分解能ラザフォード後方散乱分析法による薄膜の評価
- 企業シリーズ 21世紀のニーズに応える分析・解析・評価技術(3)半導体デバイスの故障解析技術--透過電子顕微鏡や表面分析装置を用いたデバイスの故障原因調査
- 鉄鋼材料の表面分析
- 半導体デバイスの評価・解析技術 (電子材料特集)
- 表面から飛び出る二次イオンの分析--最新二次イオン質量分析法 (特集 金属の表面(続))
- 鉄鋼産業における表面科学の役割
- 地球化学コ-ドによる地層処分に関する化学的環境の解析・評価方法の検討