中沢 純郎 | (株)コベルコ科研

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• 中沢 純郎

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• 源内 規夫

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• 鈴木 正美

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• 笹川 薫

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• 中沢 純郎

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• 川野 章之

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• 豊田 忠

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著作論文

• 413 O_2^+, N_2^+, Cs^+ イオンによる各種金属のスパッタリング収率(元素分析, 表面分析, 分析・表面処理, 日本鉄鋼協会第 114 回(秋季)講演大会)
• 435 波長分散形 X 線マイクロアナライザの定量分析におけるバックグラウンドの補正法(分析, 分析・表面処理, 日本鉄鋼協会第 110 回(秋季)講演大会)
• 二次イオン質量分析法による鋼中チタン析出物の定量に関する基礎的検討(析出物分析)(分析評価・解析)
• イオンマイクロアナライザによる金属表面の微小領域分析 (表面処理・表面改質特集)

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