回折パターン投影による物体の位置と姿勢の測定法
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概要
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本研究では, パターン投影による物体の位置と姿勢の測定を, 測定領域100mm (位置), 50. (姿勢), 測定精度約0.2mm (位置), 0.2° (姿勢), 処理時間約1s (1回) で行うことができた.また動的測定では, 結果の出力をまとめて最後に行えぽ1回の測定を0.06sで行うことができた.<BR>これによって, 位置と姿勢を1m程度離れた位置から検出し, ロボットに目の機能を与えることができる.また物体の位置, 床面の情報など多くの応用が考えられるが, それぞれに適した測定範囲, 測定の分解能などを光学配置, 光学系により選択しなけれぽならない.
- 公益社団法人精密工学会の論文
- 1990-07-05
著者
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