レーザーイオン化/収束イオンビームによる単一ナノ粒子の履歴解析装置 : 有機・無機材料のナノ加工とナノスケール質量イメージング
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概要
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- 2010-10-01
著者
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藤井 正明
東京工業大学 資源化学研究所
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藤井 正明
東京工業大学
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坂本 哲夫
東大 環境安全研セ
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坂本 哲夫
工学院大学電気システム工学科
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藤井 正明
東京工業大学資源化学研究所
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坂本 哲夫
工学院大学工学部電気システム工学科
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坂本 哲夫
工学院大学
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