高分解能飛行時間型二次イオン質量分析法を用いた微粒子粒別起源解析法の開発
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概要
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A method for the source apportionment of individual particles was developed by using high lateral resolution time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS). The procedure of this method was optimized through the analysis of some kind of pure metal particles. This method was applied to the aerosol particles collected for a week at Fukue-Island in Japan. As the results, the aerosol particles on characteristic days were classified into 10 clusters with different sources. The variation of pollution aerosols was consistent with that deduced by the bulk chemical analysis. We concluded that the developed method was effective to the source apportionment of suspended particulate matters.
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