ホール素子磁気顕微鏡によるCa_2CuO_3バリア導入Bi2223線材の残留磁界分布測定
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概要
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- 2009-11-18
著者
-
馬場 翔平
豊橋技術科学大学
-
稲田 亮史
豊橋技術科学大学
-
中村 雄一
豊橋技術科学大学
-
太田 昭男
豊橋技術科学大学
-
李 成山
西北有色金属研究院
-
張 平祥
西北有色金属研究院
-
坂元 周作
木更津工業高等専門学校
-
稲田 亮史
豊橋技科大
-
中村 雄一
豊橋技科大
-
太田 昭男
豊橋技科大
-
坂本 周作
木更津工業高等専門学校電子制御工学科
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