シリコン原子波操作のためのナノ秒パルス深紫外コヒーレント光源の注入同期性能
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概要
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Output performances of a nanosecond pulsed deep-ultraviolet (DUV) coherent light source injection-seeded by a frequency-scanning continuous-wave Ti:sapphire laser are discussed with optogalvanic spectroscopy of silicon atom. Its wavelength changes drastically because the injection seeding leads the single-mode operation at the frequency of the seed laser only when the optical frequency of the seed laser matches the cavity frequency of the slave laser. The envelope of the absorption spectrum of silicon atoms with the ns pulsed DUV laser injection-seeded by the seed laser, of which the intensity is strong, indicates its potentials useful for manipulating silicon atomic waves resonantly.
- 社団法人 電気学会の論文
- 2007-09-01
著者
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