レーリー散乱損失を低減した光ファイバの検討(光センサ, 一般)
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概要
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光ファイバの損失要因であるレーリー散乱損失は密度ゆらぎと組成ゆらぎにより発生し、その内の密度ゆらぎについてはガラスが液体から固化する温度(仮想温度)に依存する。そこで、線引き中のファイバにアニール処理を行い、その処理時間と処理温度を用いてファイバの仮想温度を制御した。ファイバ仮想温度が1340℃となった光ファイバのレーリー散乱係数は0.86dB/km/nm^4となり、通常(処理なし)のファイバに比べ8%程度の低減が図れた。また、本ファイバの伝送損失は、波長1.31μmで0.299dB/km、波長1.57μmで0.170dB/kmと低損失な特性を確認した。
- 2005-05-05
著者
-
大薗 和正
日立電線株式会社技術研究所エレクトロニクス研究開発センタ
-
姚 兵
日立電線株式会社技術研究所エレクトロニクス研究開発センタ
-
姚 兵
日立電線株式会社
-
生嶋 明
豊田工業大学
-
大薗 和正
日立電線株式会社
-
黒沢 芳宣
日立電線株式会社
-
齋藤 和也
豊田工業大学
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