FDTD法による導波管定在波法を用いた誘電率測定に関する一考察
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概要
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本研究においては、3次元の電磁界解析法として有効なFDTD法を導波管内の電磁界解析に応用し、導波管定在波法を用いた誘電率測定において、特に測定試料の変形に起因する誤差について検討した。ここで、解析モデルとしては、導波管定在波法の中でも一般的によく使用されているTE_<10>モードによる方形導波管を用いた短絡法に着目し、挿入試料の誘電率と変形度をパラメータとして誤差の検討を行なった。この結果、このような導波管内の電磁界解析に対してFDTD法が有効であること、また挿入試料の誘電率および変形度と誘電率測定における誤差には明確な相互間が示され、今後、本方法を用いた誘電率測定における誤差測定に対して有効な資料が得られた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-04-18
著者
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