スイッチング素子と接続されたプリント線路モデルからの電磁雑音放射の計測
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概要
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プリント基板上のスイッチング素子とその配線からの雑音の基礎特性を, 近傍界と遠方界の両方から明らかにするために, TTL ICを用いて, その駆動周波数(3MHz)の高調波のスペクトルとその変化に着目し, 評価した. 近磁界センサを用いて近傍磁界雑音と, 電波暗室内の3m法による放射電界雑音を測定し, 基板の厚さとプリント線路幅による違いを検討した. その結果, 近傍磁界雑音はICに近いほど大きく, 基板厚が薄いほど小さい傾向が見られた. 一方, 放射電界雑音では基板厚や線路幅による違いは見られなかった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-07-19
著者
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