低温におけるSITの低周波雑音計測
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概要
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低温 (液体窒素沸点 : 77[K]) と常温 (室温 : 293[K]) におけるリセスゲート型SITの100Hz〜3MHzにわたる低周波雑音の測定を行い, 雑音の温度依存性について検討した. 測定結果より, 低温では平坦雑音の主雑音源であるソース側のチャネル内部抵抗r_sは減少することが静特性より確認された. しかし, r_s以外の抵抗成分が増加するため, 平坦雑音のr_sに対する依存度は常温の場合と比べて低くなる傾向を示した. また, 1/f雑音は傾きが急になり, 平坦雑音との境界周波数は低周波側に推移した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-12-20
著者
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