外観検査のための2段ニューラルネットワーク欠陥分類システム

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概要

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• 2004-01-16

著者

• 秦 清治

  香川大学

• 松久保 貴裕

  香川大学

• 秦 清治

  香川大学工学部知能機械システム工学科

• 杉野 欣伸

  株式会社ヒューテック 営業本部 新製品統括部

• 杉野 欣伸

  ヒューテック

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