杉野 欣伸 | 株式会社ヒューテック 営業本部 新製品統括部
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
杉野 欣伸
株式会社ヒューテック 営業本部 新製品統括部
-
杉野 欣伸
ヒューテック
-
松久保 貴裕
香川大学
-
秦 清治
香川大学工学部知能機械システム工学科
-
秦 清治
香川大学
-
林 純一郎
香川大学
-
中村 淳良
シャープ((株)
-
伊藤 崇輝
香川大学
-
杉野 欣伸
(株)ヒューテック
-
重山 吉偉
シャープ((株)
著作論文
- 外観検査システムのトータルシステム化とその機能
- 高感度検査装置と高分解能検査装置
- 無地シートの欠点弁別 (第6回 知能メカトロニクスワークショップ--人間を支援するメカトロニクス技術) -- (特別セッション 検査の知能化/生産システム)
- LCD部材の最適な検査 (特集 FPDの検査・測定)
- 欠点検出装置に求められる性能と機能 : MaxEye. next と MaxEye. REVO
- 外観検査のための2段ニューラルネットワーク欠陥分類システム
- 教示データを記述から生成する2段ニューラルネットワーク欠陥分類システム
- 最新のストリーク筋検出技術
- 欠点の特徴量 計測と弁別 : 知能化シート検査装置