小視野 CdTe 半導体検出器を用いた SPECT 定量性向上の検討
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概要
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- 2000-07-20
著者
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高山 卓三
(株)東芝 医用システム社
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本村 信篤
(株)東芝医用システム社
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森 一生
東北大学大学院医学系研究科保健学専攻
-
森 一生
東北大学医学部保健学科放射線技術科学専攻
-
森 一生
(株)東芝 医用システム社 医用機器・システム開発センター
-
樋渡 圭
長岡技術科学大学生物系医用生体工学教室
-
樋渡 圭
長岡技術科学大学工学部
-
大野 良一
株式会社アクロラド
-
中村 信之
(株)東芝 医用システム社 医用機器・システム開発センター
-
中村 信之
(株)東芝医用システム社医用機器・システム開発センター
-
大野 良一
(株)アクロラド
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本村 信篤
(株)東芝 医用システム社 医用機器・システム開発センター
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高山 卓三
(株)東芝 医用システム社 医用機器・システム開発センター
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