CT画像の雑音測定における低周波数領域での精度向上
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概要
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原著
- 2011-01-31
著者
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森 一生
東北大学医学部保健学科放射線技術科学専攻
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森 一生
(株)東芝 医用システム社 医用機器・システム開発センター
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森 一生
東北大学医療技術短期大学部:東芝医用システム社医用機器・システム開発センター
-
後藤 光範
財団法人厚生会仙台厚生病院放射線部
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