修復物の辺縁封鎖性に対する電気過診断法の開発-窩洞形態がコンダクタンス値に及ぼす影響-
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概要
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- 1999-04-01
著者
-
岩見 行晃
大阪大学大学院歯学研究科口腔分子感染制御学講座(歯科保存学教室)
-
山本 洋子
大阪大学大学院歯学研究科口腔分子感染制御学講座(歯科保存学教室)
-
恵比須 繁之
大阪大学歯学部口腔治療学講座
-
恵比須 繁之
大阪大学歯学部歯科保存学講座
-
岩見 行晃
大阪大学歯学部歯科保存学講座
-
山本 洋子
大阪大学歯学部歯科保存学講座
-
川井 睦子
大阪大学歯学部歯科保存学講座
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