反射特性における低損失誘電体試料の寸法に関する影響

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概要

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• 1999-08-01

著者

• 橋本 修

  青山学院大学

• 田中 隆

  TDK株式会社

• 鈴木 秀俊

  青山学院大学理工学部

• 橋本 修

  青山学院大 理工

• 田中 隆

  Tdk

• 田中 隆

  Tdk株式会社電波エンジニアリング事業部

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